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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 大范围的加速电压设置
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 分辨率达到了63pm
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JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
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冷场发射12极子球差校正透射电镜
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 JEOL自主研发的球差校正器
产品特点:实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界
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日本JEOL透射电子显微镜 JEM-ARM300F GRAND ARM
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